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涂镀层测厚仪的几个基本类别概述

时间:2021-03-12 浏览次数:34

   涂镀层测厚仪是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的二次X射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右,所以不会对样品造成损坏。同时测量的也可以在10秒到几分钟内完成。
  随着技术的日益进步,特别是近年来引入微机技术后,采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米,精度可达到1%,有了大幅度的提高。它适用范围广,量程宽、操作简便且价廉,是工业和科研使用广泛的测厚仪器。
  涂镀层测厚仪采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材,检测速度快,能使大量的检测工作经济地进行,根据测量原理可分为五种类型:
  1.磁性测厚法:适用导磁材料上的非导磁层厚度测量,导磁材料一般为钢、铁、银、镍,此种方法测量精度高。
  2.涡流测厚法:适用导电金属上的非导电层厚度测量,此种方法较磁性测厚法精度低。
  3.超声波测厚法:目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的,国外个别厂家有这样的仪器,适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合,但一般价格昂贵测量精度也不高。
  4.电解测厚法:此方法有别于以上三种,不属于无损检测,需要破坏涂镀层,一般精度也不高,测量起来较其他几种麻烦。
  5.放射测厚法:此种仪器价格非常昂贵,适用于一些特殊场合。
  目前国内使用较为普遍的是1、2两种方法。

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