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涂镀层测厚仪的基本原理及运用事宜

时间:2020-10-10 浏览次数:26

   随着技术的日益进步,特别是近年来引入微机技术后,涂镀层测厚仪采用磁性法和涡流法正向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米,精度可达到1%,有了大幅度的提高。它适用范围广,量程宽、操作简便且价廉,是工业和科研使用广泛的测厚仪器。
  涂镀层测厚仪是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右,所以不会对样品造成损坏。同时,测量的也可以在10秒到几分钟内完成。
  为保证测量的准确性,在使用涂镀层测厚仪时需遵循以下几点事宜:
  1.同一点重复测量时,每次将探头离开以上,间隔几秒钟后再测,避免被测材料因探头磁化后影响下次测量结果;
  2.使用时平面调零测平面,凸面调零测凸面,凹面调零测凹面,避免因结构不同而产生测量误差;
  3.尽量使用被测材料作为调零基体,避免因不同材料的导磁性不同,而出现测量误差;
  4.尽量在被测材料的同一部位调零后,再测相同部位。例如,在工件边缘和中间部位应分别调零;
  5.做调零用的表面,要尽量光滑;被测材料表面的粗糙度对测量数值影响很大,如果表面不光滑,应视情况取平均值;
  总之,使用时不要为了着急出结果而乱测一气,这是不科学的,测量出来的数据结果也是不准确的。

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